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型號DL19-ST-102B
DL19-ST-102B型探針測試臺(英文叫Proberstation,中文又稱中測臺,點測機。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
技 術 指 標:
工作臺面370mm*245mm
載物臺直徑4"
光學參數(shù)總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;
精密旋轉(zhuǎn)臺粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;最小刻劃:1°;
銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm
三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
三維探針座在工作臺面可任意位置固定,由磁性開關控制;
最多可布三維探針座6個;
探針臂伸出長度:60mm;
探針長度:40mm;
探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;